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ZMIKE激光测径仪
  • 产品名称:ZMIKE激光测径仪
  • 所属类别: >
  • 发布时间:2013-07-18
  • 产品产地:美国
  • 已获点击:930
详细说明
ZMIKE 激光测径仪
美国ZMIKE台式外形尺寸激光测径仪,测量高,测量速度快,可单次或连续测量,可满足不同测量应用领域。与传统的接触式外形几何尺寸测量比较,BenchMike采用了激光非接触测量原理。对原始测量数据自动采集、处理,数字显示等技术,降低了由于测量方法及测量人员造成的误差。从而提高了测量的。友好界面的显示控制软件及多种接口用于数据及通讯,将使用者从繁重的测量中解放出来。特别是对于一些柔软、易碎、辐射、高要求等传统接触测量束手无策的被测量任务,BenchMike可提供满意的测量。

主要特点:
◆ 测量高,测量速度快。可满足不同测量应用领域
◆ 丰富的测量模式满足不同的测量应用
◆ 采用了全新数据处理技术,图形用户交互(GUI)界面、快捷按键使测量更直观,操作更便利
◆ 具有测量应用库及自编辑被测量功能,配合专用夹具及多种输入/出口,使仪表具备良好的测量扩充能力
◆ 单点及双点自动校准功能,减少了使用条件的变化对测量的影响,使仪表维护更方便

测量原理:
采用激光扫描原理进行测量,如右图所示,激光发生装置产生的激光,照射在马达驱动的高速旋转棱镜上,通过发射透镜组在测试区间中形成标准扫描平行光束,测试区间中的被测量物体遮挡光束形成的阴影,会在光电收集端形成信号的阶跃,阶跃宽度及位置决定了被测量物体的直径及在测试区间位置等参数。
技术参数:

4025S

4025G

4050S

4050G

测量范围

0.1 - 25.4 mm

0.1 - 25.4 mm

0.25 - 50 mm

0.25 - 50 mm

复现性误差

±0.3 μm

±0.13 μm

±0.5 μm

±0.25 μm

线性误差

±0.9 μm

±0.5 μm

±1.5 μm

±0.76μm

光线面积

56.1 mm

56.1 mm

77.5 mm

77.5 mm

测试区间范围

±1.5 x 25 mm

±1.5 x 25 mm

±3 x 50 mm

±3 x 50 mm

扫描光尺寸

125 μm

125 μm

250 μm

250 μm

扫描光速率

50m/sec

50m/sec

100m/sec

100m/sec

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